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半導體顯微鏡的各種觀察功能可生成清晰的圖像，讓用戶能夠?qū)悠愤M行可靠的缺陷檢測。全新照明技術(shù)以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結(jié)果提供更多選擇。

激光共聚焦顯微鏡配有奧林巴斯光學掃描儀。通過將采用電磁感應(yīng)MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結(jié)合，$n能夠讓X-Y掃描儀定位于相對物鏡瞳鏡共軛的位置，因而能夠?qū)崿F(xiàn)具有較低掃描軌跡失真和較小光學像差的X-Y掃描。

工具顯微鏡系列采用了歷代奧林巴斯的技術(shù)，并借鑒了長達一個多世紀顯微鏡研發(fā)和50多年測量顯微鏡研發(fā)的經(jīng)驗，品質(zhì)值得信賴。

倒置金相顯微鏡廣泛應(yīng)用于鋼鐵、汽車、電子及其他制造行業(yè)。用戶只需將樣品倒扣放置在載物臺上即可檢測拋光金屬和切片樣品。樣品底部無需平整處理，并且尺寸可以較厚、較大、或者較重。

體視顯微鏡是不斷追求的伽利略光學系統(tǒng)為*的立體顯微鏡的結(jié)果。該系列產(chǎn)品旨在宏觀觀察在低倍鏡下提高獲得高品質(zhì)的圖像，以及高倍鏡下顯微結(jié)構(gòu)的觀察。增強的功率也確保了*的變焦范圍也提高了焦點的深度